一种相位延迟测量用样品
授权
摘要
本实用新型提供了一种相位延迟测量用样品，其结构包括，第一石英晶体薄片和第二石英晶体薄片，在所述的第一石英晶体薄片表面刻蚀有N个台阶，每个台阶的深度均不同，所述的第一石英晶体薄片的下表面和第二石英晶体薄片下表面光胶结合。该标准样品具有量值范围宽、易存储等优点，能够满足不同量程相位延迟的测量。
基本信息
专利标题 ：
一种相位延迟测量用样品
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921444292.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-02
授权号 ：
CN210719635U
授权日 ：
2020-06-09
发明人 ：
刘世杰王微微周游潘靖宇
申请人 ：
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 ：
上海市嘉定区清河路390号
代理机构 ：
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
张宁展
优先权 ：
CN201921444292.2
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-06-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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