用于高精度距离测量的相位测量
公开
摘要
在至少一个实施例中，一种用于测量包括第一本地振荡器的第一通信设备和包括第二本地振荡器的第二通信设备之间的距离的方法，包括解卷绕N个相位值以产生N个解卷绕相位值。N为大于1的整数。N个相位值中的每一个指示所接收信号的瞬时相位。该方法包括对N个解卷绕相位值进行平均以产生平均相位值。该方法包括卷绕平均相位值以产生第一本地振荡器相对于第二本地振荡器的最终相位测量。
基本信息
专利标题 ：
用于高精度距离测量的相位测量
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578334A
申请号 ：
CN202111279662.3
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2021-10-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
约翰·M·库利Y·周迈克尔·A·吴
申请人 ：
硅谷实验室公司
申请人地址 ：
美国德克萨斯州
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
庄锦军
优先权 ：
CN202111279662.3
主分类号 ：
G01S11/02
IPC分类号 ：
G01S11/02 G01S11/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S11/00
不利用反射或再辐射确定距离或速度的系统
G01S11/02
利用无线电波
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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