一种高精度相位频率测量装置

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摘要

本实用新型公开了一种高精度相位频率测量装置，属于现代相位测量技术领域，包括机箱，机箱设有前面板和后面板，机箱内部设有比较器、处理器、集成电路芯片和时钟源，处理器采用ARM模块，集成电路芯片采用FPGA模块，比较器分别与集成电路芯片和前面板连接，集成电路芯片分别与时钟源和处理器连接，处理器与前面板连接，处理器ARM模块的型号为STM32F407VET6，集成电路FPGA模块的型号为EP4CE6E22C8；本实用新型实现电路简单，成本低，相位差测量精度高，相位检测灵敏、电压幅度大、性能可靠，可以同时测量两路(最大可扩展至36路)输入同频信号的频率和相位差的高精度测量，采用先进的过零比较检测技术，实现频率的等精度测量，高精度相位测量。

基本信息

专利标题：

一种高精度相位频率测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022251891.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-10-12

授权号：

CN213986632U

授权日：

2021-08-17

发明人：

马战国马战康

申请人：

西安同步电子科技有限公司

申请人地址：

陕西省西安市高新区科技三路57号融城云谷A座1501

代理机构：

成都弘毅天承知识产权代理有限公司

代理人：

孟仕杰

优先权：

CN202022251891.1

主分类号：

G01R23/02

IPC分类号：

G01R23/02 G01R25/00