高稳定度高光谱分辨率干涉成像光谱仪成像方法及光谱仪
专利权的终止
摘要
一种高稳定度高光谱分辨率干涉成像光谱仪的成像方法及实现该方法的光谱仪,其转换成平行光束的目标光,经分束器分为反射光束和透射光束。反射光束经转镜和角反射器反射后回到分束器,由傅立叶透镜会聚形成第一束光的光程。透射光束经角反射器和平面反射镜反射后回到分束器,由傅立叶透镜会聚形成第二束光的光程,两束光到达探测器时产生光程差。角反射器沿垂直于分束器的平面同步移动,两束光的光程差范围发生变化,不同光程差范围所对应的干涉光谱图叠加后,经傅立叶变换,得到高光谱分辨率的目标复原图像。本发明解决了背景技术只能对单象素取样,或系统结构复杂、稳定性差等技术问题,其实时性好,尤适于对大目标的大面积扫描。
基本信息
专利标题 :
高稳定度高光谱分辨率干涉成像光谱仪成像方法及光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1945244A
申请号 :
CN200510096121.1
公开(公告)日 :
2007-04-11
申请日 :
2005-10-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
苏丽娟相里斌袁艳
申请人 :
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 :
710068陕西省西安市友谊西路234号
代理机构 :
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 :
徐平
优先权 :
CN200510096121.1
主分类号 :
G01J3/45
IPC分类号 :
G01J3/45 G02B27/10
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
G01J3/45
干涉光谱法
法律状态
2012-12-05 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101361944894
IPC(主分类) : G01J 3/45
专利号 : ZL2005100961211
申请日 : 20051009
授权公告日 : 20081217
终止日期 : 20111009
号牌文件序号 : 101361944894
IPC(主分类) : G01J 3/45
专利号 : ZL2005100961211
申请日 : 20051009
授权公告日 : 20081217
终止日期 : 20111009
2008-12-17 :
授权
2007-06-06 :
实质审查的生效
2007-04-11 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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2、
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