一种空间外差干涉成像光谱仪成像推扫装调机构
授权
摘要

本实用新型公开了一种空间外差干涉成像光谱仪成像推扫装调机构,是由平台分隔为下层调整结构和上层调整结构;下层调整结构为:设置呈水平放置的底座,平台支撑在底座上,并能调整平台与底座之间的前后倾角;前后倾角是指平台与水平面中Y轴的夹角;上层调整结构为:将载物台支撑在平台上,并能调整载物台与平台之间的左右倾角;左右倾角是指载物台与水平面中X轴的夹角。本实用新型结构紧凑、安装方便、调节灵活、稳定可靠,用于实现空间外差干涉成像光谱仪推扫方向与干涉调制方向的一致性调节功能。

基本信息
专利标题 :
一种空间外差干涉成像光谱仪成像推扫装调机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021319991.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-08
授权号 :
CN212206354U
授权日 :
2020-12-22
发明人 :
汪钱盛罗海燕丁毅施海亮李志伟熊伟
申请人 :
中国科学院合肥物质科学研究院
申请人地址 :
安徽省合肥市蜀山湖路350号
代理机构 :
安徽省合肥新安专利代理有限责任公司
代理人 :
何梅生
优先权 :
CN202021319991.7
主分类号 :
G01J3/45
IPC分类号 :
G01J3/45  G01J3/02  G01N21/31  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
G01J3/45
干涉光谱法
法律状态
2020-12-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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