空间调制干涉型计算层析成像光谱仪
专利权的终止
摘要
一种空间调制干涉型计算层析成像光谱仪。属于遥感技术领域中成像光谱仪的设计技术范畴。其主要组成结构为前置望远系统、旋转投影器、干涉光学系统,二维焦平面探测器和数据采集处理系统。干涉光学系统采用大口径投影式空间调制干涉结构,具体形式为产生等厚干涉条纹的迈克尔逊式干涉器,并用柱面(透)镜进行投影扩展。入射光经准直镜作用后成为准直光束;旋转投影器对准直光图像以一定步长进行旋转,获得不同角度的图像;干涉光学系统使从旋转投影器出射的准直光束进行干涉、投影及聚焦,在聚焦镜的像方焦平面上可以同时得到投影图像和干涉条纹;数据采集处理系统对输出的数据进行由空域到频域的变换,获得图像的光谱分布,同时经计算层析投影重建后得到光谱图案数据立方体。本发明具有高灵敏度、高光谱分辨率、高空间分辨率的特点。
基本信息
专利标题 :
空间调制干涉型计算层析成像光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1766532A
申请号 :
CN200510130308.9
公开(公告)日 :
2006-05-03
申请日 :
2005-12-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
廖宁放林宇赵达尊吴文敏方俊永林军贺书芳
申请人 :
北京理工大学
申请人地址 :
100081北京市海淀区中关村南大街5号
代理机构 :
北京理工大学专利中心
代理人 :
付雷杰
优先权 :
CN200510130308.9
主分类号 :
G01J3/26
IPC分类号 :
G01J3/26 G01J3/28 G01S17/89
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/12
光谱的产生;单色器
G01J3/26
应用多次反射,例如,法布里—珀罗干涉仪,可变干涉滤光器
法律状态
2012-02-22 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101190111264
IPC(主分类) : G01J 3/26
专利号 : ZL2005101303089
申请日 : 20051209
授权公告日 : 20090708
终止日期 : 20101209
号牌文件序号 : 101190111264
IPC(主分类) : G01J 3/26
专利号 : ZL2005101303089
申请日 : 20051209
授权公告日 : 20090708
终止日期 : 20101209
2009-07-08 :
授权
2006-06-28 :
实质审查的生效
2006-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
CN100510662C.PDF
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