一种光谱仪的装调系统
实质审查的生效
摘要

本发明涉及光谱仪技术领域,尤其涉及一种光谱仪的装调系统,包括芯片,以及依次排列设置的预设光源、第一光镜系统、法布里‑珀罗干涉仪和第二光镜系统,当第一平行光的的频率满足法布里‑珀罗干涉仪的共振条件,其透射出的第二平行光的频谱会出现很高的峰值,进而使汇聚光的第一光谱数据中出现很高的峰值,能提高对预设光源发出的细微变化的敏感度,本发明的一种光谱仪的装调系统具有更高的光谱分辨率,将根据第一光谱数据所得到包括每个预设谱峰位置对应的半峰全宽的第一数据结果作为标准,根据第一数据结果和所述第二数据结果之间的对比结果,更便于用户确定需要调整的部件。

基本信息
专利标题 :
一种光谱仪的装调系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114279570A
申请号 :
CN202111490571.4
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
周辉袁丁吴红彦夏征
申请人 :
北京华泰诺安技术有限公司
申请人地址 :
北京市顺义区竺园路12号院39号楼(天竺综合保税区)
代理机构 :
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 :
姜展志
优先权 :
CN202111490571.4
主分类号 :
G01J3/45
IPC分类号 :
G01J3/45  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
G01J3/45
干涉光谱法
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/45
申请日 : 20211208
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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