大孔径推扫式成像光谱仪系统
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摘要

本实用新型提供了一种大孔径推扫式成像光谱仪系统,属于成像光谱仪技术领域,包括依次放置的前成像镜头、狭缝、正焦距透镜、准直镜头、透射闪耀光栅、二次成像镜头、焦平面成像器件,正焦距透镜与狭缝紧贴放置;前成像镜头、狭缝、正焦距透镜、准直镜头、透射闪耀光栅相正对放置,二次成像镜头与前成像镜头、狭缝的连线呈夹角放置,夹角为透射闪耀光栅的闪耀角,二次成像镜头与焦平面成像器件相对放置;前成像镜头、准直镜头、二次成像镜头的光圈系数F均小于1.0。本实用新型提供的大孔径推扫式成像光谱仪系统,增大了推扫式成像光谱仪系统的视场角范围,通光量比现有的通光量提高了两倍以上,可获得更高的信噪比。

基本信息
专利标题 :
大孔径推扫式成像光谱仪系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021962426.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-09
授权号 :
CN213067938U
授权日 :
2021-04-27
发明人 :
梁敏勇崔厚欣尚永昌李玉国冯浩邓家春
申请人 :
河北先河环保科技股份有限公司
申请人地址 :
河北省石家庄市高新区湘江道251号
代理机构 :
河北国维致远知识产权代理有限公司
代理人 :
谢茵
优先权 :
CN202021962426.2
主分类号 :
G01J3/28
IPC分类号 :
G01J3/28  G01J3/02  G02B7/02  G02B7/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2021-04-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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