一种基于S矩阵狭缝阵列的推扫式高光谱成像系统
授权
摘要
本专利公开了一种基于S矩阵狭缝阵列的推扫式高光谱成像系统，包括主望远镜、视场光阑、S矩阵狭缝阵列、高精度电控位移台、光谱仪组件、视场补偿镜以及数据处理模块。将S矩阵狭缝阵列固定在高精度电控位移台，放置于主望远镜的一次焦面，使用视场光阑控制编码宽度，精确移动实现对面视场三维光谱图像信号的全采样，使用视场补偿镜消除编码过程中的运动模糊，通过数据处理实现空谱三维数据立方体的获取。本专利作为一种典型的计算成像方法，不存在信息丢失的问题，并且具有高通量的特点，特别适用于弱光下或者受限于积分时间的快速曝光成像场景，可搭载于卫星、飞机等具有稳定运动特性的平台开展高光谱遥感应用。
基本信息
专利标题 ：
一种基于S矩阵狭缝阵列的推扫式高光谱成像系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021264186.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-01
授权号 ：
CN212963688U
授权日 ：
2021-04-13
发明人 ：
李春来唐国良刘世界徐睿陈厚瑞谢佳楠徐艳吴兵王建宇
申请人 ：
中国科学院上海技术物理研究所
申请人地址 ：
上海市虹口区玉田路500号
代理机构 ：
上海沪慧律师事务所
代理人 ：
郭英
优先权 ：
CN202021264186.9
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28 G01J3/04 G01J3/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2021-04-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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