一种自动对焦的内置推扫式高光谱成像仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种自动对焦的内置推扫式高光谱成像仪，包括高光谱成像系统、自动对焦系统、内置推扫系统、高光谱壳体，高光谱成像系统、自动对焦系统、内置推扫系统均设置与高光谱壳体内；高光谱对焦过程极大程度的进行了简化和自动化，提高对焦的准确性，对高光谱成像仪的推扫系统进行了优化，采用狭缝推扫而不是连带物镜一起推扫的方式，减化了高光谱成像仪的推扫结构，无需再外置增加推扫装置，单机放置即可进行高光谱成像数据采集，结构紧凑，重量轻，丝杠滑台传动平稳，成像质量好。
基本信息
专利标题 ：
一种自动对焦的内置推扫式高光谱成像仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121906884.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-08-16
授权号 ：
CN216349113U
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
崔帅丁琦杜懿峰蒋鹏马强王瑜
申请人 ：
杭州高谱成像技术有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市钱塘新区义蓬街道青六中路888号义蓬科创园1201-1室
代理机构 ：
浙江和纳律师事务所
代理人 ：
毕艮鹏
优先权 ：
CN202121906884.9
主分类号 ：
G01J3/02
IPC分类号 ：
G01J3/02 G01J3/06 G01J3/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/02
零部件
法律状态
2022-04-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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