推扫模式下多光谱关联成像方法、装置及设备
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摘要

本发明提供一种推扫模式下多光谱关联成像方法、装置及设备,涉及光谱成像技术领域。应用于多光谱关联成像设备,所述多光谱关联成像设备包括:多光谱相机,该方法包括:首先在多光谱相机中的光电探测阵列的探测面上,探测到多帧图像的散斑场光强分布,然后将探测到的多帧图像的散斑场光强进行叠加,得到总的散斑场光强分布,最后根据该探测面上标定好的散斑场光强分布以及总的散斑场光强分布,得到目标物体的图像。采用本发明实施例提供的上述推扫模式下多光谱关联成像方法,先将多帧图像的总的散斑场光强分布求出来,然后通过一次计算就可以得到目标物体的图像,该方法可以提高获取目标物体图像的效率。

基本信息
专利标题 :
推扫模式下多光谱关联成像方法、装置及设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111337130A
申请号 :
CN202010184410.1
公开(公告)日 :
2020-06-26
申请日 :
2020-03-16
授权号 :
CN111337130B
授权日 :
2022-05-03
发明人 :
李美萱刘小涵刘明周成宋立军
申请人 :
吉林工程技术师范学院
申请人地址 :
吉林省长春市宽城区凯旋路3050号
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
曹瑞敏
优先权 :
CN202010184410.1
主分类号 :
G01J3/28
IPC分类号 :
G01J3/28  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2022-05-03 :
授权
2020-07-21 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/28
申请日 : 20200316
2020-06-26 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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