面扫探头系统和光谱仪
专利申请权、专利权的转移
摘要

本公开涉及一种面扫探头系统和光谱仪,面扫探头系统包括:第一壳体,设置有导光孔,以供激发光束照入到第一壳体中,激发光束来自光谱仪的拉曼检测系统的通光孔;面扫光学模块,安装于第一壳体并且包括反射元件;MEMS模块,固定于第一壳体,并且包括MEMS驱动器和MEMS反射镜,MEMS驱动器驱动MEMS反射镜运动;以及物镜模块,固定于第一壳体并且包括准直透镜,从导光孔照入的激发光束经反射元件反射后朝向MEMS反射镜照射,并之后被MEMS反射镜反射为朝向准直透镜的像侧面照射的角度不同的多个平行光束。通过上述技术方案,本公开提供的面扫探头系统能够实现多点检测扫描,有益于提高光谱仪的操作安全性和检测精度。

基本信息
专利标题 :
面扫探头系统和光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922343903.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-23
授权号 :
CN211978698U
授权日 :
2020-11-20
发明人 :
不公告发明人
申请人 :
深圳前海达闼云端智能科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室(入驻深圳市前海商务秘书有限公司)
代理机构 :
北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘彦哲
优先权 :
CN201922343903.0
主分类号 :
G01N21/65
IPC分类号 :
G01N21/65  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/65
喇曼散射
法律状态
2022-06-14 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移IPC(主分类) : G01N 21/65
登记生效日 : 20220601
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 深圳达闼云端智能科技有限公司
变更后权利人 : 北京云端光科技术有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南九道10号深圳湾科技生态园10栋A1302
变更后权利人 : 100089 北京市海淀区长春桥路11号4号楼20层1904-010
2022-06-14 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01N 21/65
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳前海达闼云端智能科技有限公司
变更后 : 深圳达闼云端智能科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室(入驻深圳市前海商务秘书有限公司)
变更后 : 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南九道10号深圳湾科技生态园10栋A1302
2020-11-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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