一种太赫兹光谱仪探头
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摘要
本实用新型涉及一种太赫兹光谱仪探头,包括太赫兹发射天线、连接太赫兹发射天线的发射天线座、太赫兹接收天线、连接太赫兹接收天线的接收天线座,太赫兹发射天线的俯仰和偏摆角度能够被调整,太赫兹发射天线发射出的太赫兹脉冲信号经过固定在准直透镜座上的太赫兹准直透镜调直后入射到分束器,分束器设置在分束器座上并能够旋转,一部分调直后的太赫兹脉冲信号透过分束器,再经过太赫兹聚焦镜一聚焦后入射到样品上;从样品反射回来的太赫兹脉冲信号,经太赫兹聚焦镜一,在分束器上发生透射和反射,经太赫兹聚焦镜二将分束器反射回来的太赫兹脉冲信号平行脉冲汇聚,太赫兹接收天线连接在接收天线座上。本实用新型具有准确性高、测试范围大的优点。
基本信息
专利标题 :
一种太赫兹光谱仪探头
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921433999.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-30
授权号 :
CN210894107U
授权日 :
2020-06-30
发明人 :
曲秋红李萌
申请人 :
莱仪特太赫兹(天津)科技有限公司
申请人地址 :
天津市滨海新区华苑产业区(环外)海泰华科一路15号5幢201室
代理机构 :
天津市北洋有限责任专利代理事务所
代理人 :
程毓英
优先权 :
CN201921433999.3
主分类号 :
G01N21/3581
IPC分类号 :
G01N21/3581
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
G01N21/3581
利用远红外光;利用太赫兹辐射
法律状态
2020-06-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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