一种衰减全反射太赫兹探头
授权
摘要
本实用新型公开了一种衰减全反射太赫兹探头，包括底座和发射端，所述底座外表面的一侧固定连接有第一L型杆，第一L型杆的顶端与发射端的底部固定连接，底座的顶部固定连接有抛物镜一、抛物镜二、抛物镜三和抛物镜四，底座的顶部且位于抛物镜二和抛物镜三之间固定连接有棱镜，所述底座的顶部固定连接有密封盖，所述密封盖的底部压接有样品，本实用新型涉及太赫兹探头技术领域。该衰减全反射太赫兹探头，抛物镜一、抛物镜二、抛物镜三和抛物镜四的侧面均设置为抛物线形状，通过抛物面镜进行聚焦，保证光斑尽可能小、能量强，有信号的信噪比有一定的改进作用，解决了常见的太赫兹探头内部对光路的聚集效果不佳的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种衰减全反射太赫兹探头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020272819.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-06
授权号 ：
CN211669054U
授权日 ：
2020-10-13
发明人 ：
曲秋红赵荧
申请人 ：
莱仪特太赫兹（天津）科技有限公司
申请人地址 ：
天津市滨海新区华苑产业区（环外）海泰华科一路15号5幢201室
代理机构 ：
北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王新爱
优先权 ：
CN202020272819.4
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/3581
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-10-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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