高稳定度干涉成像光谱仪的成像方法及实现该方法的光谱仪
专利权的终止
摘要

一种高稳定度干涉成像光谱仪的成像方法及实现该方法的光谱仪,其准直透镜将来自目标的光转换成平行光束,经分束器后分为反射光束IF和透射光束IT。反射光束IF经转镜和角反射器多次反射后回到分束器,由傅立叶透镜会聚到探测器,形成第一束光的光程。透射光束IT经角反射器和分束器多次反射后回到分束器,由傅立叶透镜会聚到探测器,形成第二束光的光程。两束光到达探测器时产生光程差,在探测器上产生干涉光谱图。干涉光谱图经计算机处理系统傅立叶变换,得到复原的目标图像。本发明解决了背景技术只能对单象素取样,或系统结构复杂、稳定性差等技术问题,其装校工作量小,信号噪声降低,实时性好,尤适于大面积扫描。

基本信息
专利标题 :
高稳定度干涉成像光谱仪的成像方法及实现该方法的光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1945242A
申请号 :
CN200510096119.4
公开(公告)日 :
2007-04-11
申请日 :
2005-10-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张文喜相里斌袁艳黄旻苏丽娟陶然
申请人 :
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 :
710068陕西省西安市友谊西路234号
代理机构 :
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 :
徐平
优先权 :
CN200510096119.4
主分类号 :
G01J3/45
IPC分类号 :
G01J3/45  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
G01J3/45
干涉光谱法
法律状态
2012-12-05 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101361944834
IPC(主分类) : G01J 3/45
专利号 : ZL2005100961194
申请日 : 20051009
授权公告日 : 20090506
终止日期 : 20111009
2009-05-06 :
授权
2007-06-06 :
实质审查的生效
2007-04-11 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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