微透镜阵列型成像光谱仪在线标定方法
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摘要
本发明公开了微透镜阵列型成像光谱仪在线标定方法，透镜阵列型成像光谱仪获取的汞灯光谱数据，在探测器靶面上选取汞灯条件下，波长为546.075nm的图像矩阵，其中，待标定光斑矩阵为m×n。手动选取T1,1、T1,n、Tm,1这三个坐标点进行质心坐标计算，然后根据相关公式及相关规律更新波长为546.075nm、576.961nm、579.067nm这三个光斑矩阵的相关数据，该数据为汞灯546.075nm、576.961nm、579.067nm三个光斑矩阵在探测器的实际成像位置进行精准标定后的真实位置，本发明提出利用汞灯条件下，通过波长为546.075nm、576.961nm、579.067nm的光谱实现全500nm‑600nm谱段范围内的全光谱标定。
基本信息
专利标题 ：
微透镜阵列型成像光谱仪在线标定方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113155755A
申请号 ：
CN202110350345.X
公开（公告）日 ：
2021-07-23
申请日 ：
2021-03-31
授权号 ：
CN113155755B
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
杨晋王明佳冯树龙于昌本孙慈宋楠陈佳奇赵梓彤王添一
申请人 ：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 ：
吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
代理机构 ：
长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
高一明
优先权 ：
CN202110350345.X
主分类号 ：
G01N21/27
IPC分类号 ：
G01N21/27
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/27
利用光电检测
法律状态
2022-05-24 ：
授权
2021-08-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/27
申请日 : 20210331
申请日 : 20210331
2021-07-23 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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