光谱仪的标定气体室
视为撤回的专利申请
摘要
一个光谱仪装置的探测器组件带有机内标定气体室。一个腔体作为一个室，其初始端具有一初始孔而其终端具有终端孔并与初始孔相面对着。透光窗口装在两相互面对着的孔中以封住此室。一聚焦透镜安在初始孔中而一个探测器装在终端孔中以封住此腔体的两端。此室具有一锥形内表面使初始孔逐渐向终端孔缩小。此腔体具有一标定气体入口与室相连通并位于初始端。一标定气体出口与室相连通并位于终端附近。
基本信息
专利标题 ：
光谱仪的标定气体室
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN87101679A
申请号 ：
CN87101679.6
公开（公告）日 ：
1987-09-16
申请日 ：
1987-03-05
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
罗伯特·莱奥纳德·纳尔森威廉姆·约翰·丹利威廉姆·哈维·麦克英蒂
申请人 ：
西屋电气公司
申请人地址 ：
美国宾夕法尼亚州15222
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
赵越
优先权 ：
CN87101679.6
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01J3/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
1992-06-17 ：
视为撤回的专利申请
1989-09-13 ：
实质审查请求
1987-09-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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