衍射成像原位拉伸装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种衍射成像原位拉伸装置,涉及衍射成像领域,包括驱动机构、丝杆、丝杆螺母、滑移台、驱动杆、直线轴承、样品腔;所述驱动机构驱动所述丝杆转动,所述丝杆螺母连接在所述丝杆的螺纹上;所述滑移台包括轨道和滑块,所述轨道与所述丝杆的长度方向平行设置,所述滑块与所述轨道滑动配合;所述驱动杆的一端与所述丝杆螺母固定连接并与所述滑块固定连接,另一端穿过所述直线轴承的中心孔后伸入所述样品腔中;所述样品腔采用X射线能够透过的材质。本实用新型的优点在于:能够对材料在拉伸过程中实现在线监测。
基本信息
专利标题 :
衍射成像原位拉伸装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920626714.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-05
授权号 :
CN209878630U
授权日 :
2019-12-31
发明人 :
陈兴范辉黄伟峰
申请人 :
华研环科(北京)科技有限公司
申请人地址 :
北京市丰台区科学城星火路10号1幢1层108室
代理机构 :
合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
毛雪娇
优先权 :
CN201920626714.1
主分类号 :
G01N23/20025
IPC分类号 :
G01N23/20025 G01N3/08
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2019-12-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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