一种原位拉伸装置
授权
摘要
本实用新型涉及纳米材料力学性能与显微结构原位表征技术领域,提供一种原位拉伸装置,包括MEMS力学芯片和设置在MEMS力学芯片上的第一搭载侧、第二搭载侧;还包括第一拉伸辅助件、第二拉伸辅助件和拉伸样品;第一拉伸辅助件连接第一搭载侧,拉伸样品的两端分别连接第二拉伸辅助件与第二搭载侧;第一拉伸辅助件与第二拉伸辅助件相嵌套成勾套结构;本实用新型结构简单、设计巧妙、操作便捷,实现了在MEMS力学芯片上直接搭载拉伸样品和用于辅助拉伸的勾套结构,以便对拉伸样品进行原位拉伸实验操作,提高了TEM原位拉伸实验的成功率和实验结果的准确性。
基本信息
专利标题 :
一种原位拉伸装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920741214.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-22
授权号 :
CN210571725U
授权日 :
2020-05-19
发明人 :
毛圣成李志鹏韩晓东邓青松沙学超张剑飞翟亚迪李雪峤马东锋栗晓辰张晴马腾云王立华张泽
申请人 :
北京工业大学
申请人地址 :
北京市朝阳区平乐园100号
代理机构 :
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 :
苗青盛
优先权 :
CN201920741214.2
主分类号 :
G01N3/08
IPC分类号 :
G01N3/08 G01N3/02 B23K10/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/00
用机械应力测试固体材料的强度特性
G01N3/08
施加稳定的张力或压力
法律状态
2020-05-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN210571725U.PDF
PDF下载