单晶衍射仪用原位光照单晶装置
授权
摘要
一种原位光照单晶装置,所述原位光照单晶装置包括底座、中空套管和光纤,其中所述底座配置为固定并支持所述中空套管和光纤,所述光纤从所述中空套管中穿过,所述中空套管配置为固定并支持从其中穿过的所述光纤;所述光纤的一端具有能够与激光器耦合的接口。采用上述装置测试单晶结构时,单晶与光纤相对位置调节恰当,便不会干扰单晶正常测试,这样光照过程和单晶测试过程就可以同时进行,只需要通过开关激光就可实现原位光照单晶试验。
基本信息
专利标题 :
单晶衍射仪用原位光照单晶装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022002167.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-14
授权号 :
CN213398272U
授权日 :
2021-06-08
发明人 :
刘涛刘强孟银杉姜文静
申请人 :
大连理工大学
申请人地址 :
辽宁省大连市甘井子区凌工路2号
代理机构 :
北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
聂稻波
优先权 :
CN202022002167.5
主分类号 :
G01N23/20008
IPC分类号 :
G01N23/20008
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
法律状态
2021-06-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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