采用面阵光电器件的光谱测量方法与仪器
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

本发明涉及科学仪器,尤其是一种光谱仪器,具体讲涉及采用面阵光电器件的光谱测量方法与仪器。为提供大幅度提高采用CCD等线性阵列光电传感器的光谱仪的灵敏度的方法及仪器,本发明采用的技术方案是:使光源发出的光依次经由狭缝、凹面反射镜、光栅、另一凹面反射镜、平面反射镜的反射后照射到光电传感器上,所述的光电传感器采用面阵光电器件,然后将采集到的信号用数字信号处理的方法把同一列的光电信号叠加得到最终输出。本发明主要用于提高光谱仪灵敏度。

基本信息
专利标题 :
采用面阵光电器件的光谱测量方法与仪器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1811356A
申请号 :
CN200610013187.4
公开(公告)日 :
2006-08-02
申请日 :
2006-02-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
林凌李刚
申请人 :
天津大学
申请人地址 :
300072天津市南开区卫津路92号
代理机构 :
天津市北洋有限责任专利代理事务所
代理人 :
刘国威
优先权 :
CN200610013187.4
主分类号 :
G01J3/02
IPC分类号 :
G01J3/02  G01J3/12  G01J3/28  G01N21/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/02
零部件
法律状态
2009-02-11 :
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-09-27 :
实质审查的生效
2006-08-02 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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