光谱测量方法、装置、光谱仪和存储介质
实质审查的生效
摘要

本申请涉及一种光谱测量方法、装置、光谱仪和存储介质。所述方法包括:响应于对待测光的待测波长的设置操作,确定所述待测波长中的第一波长及第二波长。其中,所述第二波长为所述待测波长中除所述第一波长以外的波长。基于阿达玛S矩阵,确定数字微镜阵列中当前选通的光的波长。在所述当前选通的光的波长为所述第二波长的情况下,根据所述第二波长的通光量,控制所述数字微镜阵列中所述第二波长对应的微镜列中各微镜的通光状态,以使探测系统根据从所述数字微镜阵列中探测到的光,得到所述待测光的光谱信息。采用本方法能够提高光谱测量的精度。

基本信息
专利标题 :
光谱测量方法、装置、光谱仪和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114526818A
申请号 :
CN202210145972.4
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2022-02-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张建伟胡华星
申请人 :
清华大学
申请人地址 :
北京市海淀区清华园
代理机构 :
北京华进京联知识产权代理有限公司
代理人 :
魏朋
优先权 :
CN202210145972.4
主分类号 :
G01J3/30
IPC分类号 :
G01J3/30  G01N21/25  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
G01J3/30
直接从光谱本身测量谱线强度
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/30
申请日 : 20220217
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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