微弱光光谱测量器件和光谱仪
实质审查的生效
摘要

本发明属于光谱设备领域,提供一种微弱光光谱测量器件和光谱仪,包括衬底和设置在衬底上表面的至少两个探测单元,一个探测单元包括一个光调制微纳结构单元和一个超导纳米线单光子探测器单元。光调制微纳结构单元可以对入射光光谱实现一定的调制作用,超导纳米线单光子探测器单元用于探测调制后的光子,或者本身也作为光调制结构与已有的光调制微纳结构单元共同对光子产生光谱调制作用并探测光子,使每个探测单元均具有宽光谱探测特征,可使用计算光谱重建的方法测量光谱,使光子利用率大大提高。光调制微纳结构本身的谐振作用也具有增强超导纳米线单光子探测器探测效率的作用,缩短测量时间。

基本信息
专利标题 :
微弱光光谱测量器件和光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114497343A
申请号 :
CN202111580401.5
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-12-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张巍郑敬元冯雪刘仿崔开宇黄翊东
申请人 :
清华大学
申请人地址 :
北京市海淀区双清路30号清华大学
代理机构 :
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 :
李梦晨
优先权 :
CN202111580401.5
主分类号 :
H01L39/08
IPC分类号 :
H01L39/08  H01L39/02  H01L39/12  H01L31/0352  H01L31/09  H01L25/04  G01J3/28  
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 39/08
申请日 : 20211222
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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