一种衍射光谱测量系统

专利权的终止

摘要

一种光栅平面镜衍射光谱测量系统，属于光学测量、光学仪器等技术领域，其特征在于活动式可折叠水平支架1具有相同水平基面两个底座组成；双面反射平面镜2两个面都镀有半反射膜；背面镀膜反射光栅3由刻有高密透射光栅的光栅条纹面4和镀有起半反射功能的析光膜对望远镜内的辅助光起反射作用的半反射5两个面组成；本实用新型用光栅平面镜衍射光谱测量系统，代替分光计光栅衍射光谱测量过程中的用于光路调节的平面镜和用于光谱测量的光栅，使得光路调节和光谱测量的两个步骤同时完成，并可直接进行光谱测量，同时确保光栅衍射光谱测量的精度。

基本信息

专利标题：

一种衍射光谱测量系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200620128014.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2006-10-27

授权号：

CN201016805Y

授权日：

2008-02-06

发明人：

李捷

申请人：

李捷

申请人地址：

030024山西省太原市迎泽西大街79号

代理机构：

太原市科瑞达专利代理有限公司

代理人：

庞建英

优先权：

CN200620128014.2

主分类号：

G01J3/18

IPC分类号：

G01J3/18 G01J3/28