衍射光学元件的性能检测系统
授权
摘要
本申请提供了一种衍射光学元件的性能检测系统，该系统包括：光发射器件，光发射器件用于发射预定光至衍射光学元件中；接收设备，包括接收屏，接收屏位于光发射器件的一侧，预定光经过衍射光学元件衍射后在接收屏上形成多个光斑点；图像处理装置，位于接收屏的远离光发射器件的一侧，图像处理装置用于获取接收屏上的多个光斑点的图像，并根据图像计算衍射光学元件的衍射效率、衍射均匀性以及视场角中的至少一个。该系统根据获取的图像计算衍射光学元件的至少一项性能参数，从而实现对衍射光学元件的性能的检测。
基本信息
专利标题 ：
衍射光学元件的性能检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920685419.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-14
授权号 ：
CN209624004U
授权日 ：
2019-11-12
发明人 ：
钱林峰刘文迪黄浩滨叶小伟沈科良
申请人 ：
浙江舜宇光学有限公司
申请人地址 ：
浙江省宁波市余姚市舜宇路66-68号
代理机构 ：
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
韩建伟
优先权 ：
CN201920685419.3
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2019-11-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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