一种光谱测量装置
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摘要

本实用新型实施例提供了一种光谱测量装置,包括:滤光片阵列由若干不同透射光谱的滤光片按预设阵列排布形成,滤光片用于透射待测光线;图像采集模块用于采集滤光片阵列上每个滤光片的透射光光强得到光强阵列图像;数据处理模块根据光强阵列图像中的光强矩阵与预设滤光片阵列的透射光谱矩阵,计算得到待测光线的光谱。通过采用滤光片阵列和图像采集模块的组合方式,采集待测光线经滤光片阵列透射后的光强矩阵,结合每个滤光片的透射光谱,经过多元矩阵计算得到待测光线的光谱,不需要传统的狭缝和光栅,极大地提高了入射光的强度和利用率,并可灵活按照需求调整光谱分辨率和测量范围,结构大为简化,成本大幅度降低。

基本信息
专利标题 :
一种光谱测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921902893.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-06
授权号 :
CN211121618U
授权日 :
2020-07-28
发明人 :
董翊
申请人 :
南京伯克利新材料科技有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市江北新区星火路9号软件大厦B座3楼
代理机构 :
深圳市智胜联合知识产权代理有限公司
代理人 :
齐文剑
优先权 :
CN201921902893.3
主分类号 :
G01J3/28
IPC分类号 :
G01J3/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2020-07-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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