相变薄膜微区光谱测量装置
专利权的终止
摘要

一种相变薄膜微区光谱测量装置,该装置由光源、光阑、斩光器、第二半反半透镜、第三半反半透镜、物镜、成像透镜、第一透镜、第一光谱仪、第一光电探测器、锁相放大器、第二光电探测器、第二光谱仪、第二透镜、第三透镜、声光器件、第四透镜、扩束镜、激光器和计算机构成,本实用新型可以测试待测样品在激光不同激发条件下,包括不同激光功率、脉宽、重复频率、作用次数的激光诱导相变前后的微区透射光谱和反射光谱。可用于评价相变薄膜的微区光学响应特性和光热稳定性。

基本信息
专利标题 :
相变薄膜微区光谱测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820151235.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-07-25
授权号 :
CN201251545Y
授权日 :
2009-06-03
发明人 :
翟凤潇魏劲松王阳吴谊群
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
201800上海市800-211邮政信箱
代理机构 :
上海新天专利代理有限公司
代理人 :
张泽纯
优先权 :
CN200820151235.0
主分类号 :
G01N21/39
IPC分类号 :
G01N21/39  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
G01N21/39
利用可调谐的激光器
法律状态
2010-09-22 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101005920896
IPC(主分类) : G01N 21/39
专利号 : ZL2008201512350
申请日 : 20080725
授权公告日 : 20090603
2009-06-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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