一种用于荧光分析仪器的样品盒装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于荧光分析仪器的样品盒装置,包括有盒体、活动座、升降装置,盒体上端设有顶盖,顶盖设有多个通孔,活动座上对应通孔设有用以放置样品的样品管,盒体内设有滑槽,活动座滑动设置在滑槽内,活动座的外端面设有齿条,盒体由外而内设有转轴,转轴位于盒体内的端部固定设有偏转板,偏转板的两端对称设有带有卡勾的运动臂,两个运动臂之间通过弹簧连接,偏转板的上端设有运动杆,顶盖上对应运动杆设有锁紧限位装置,盒体内部对应偏转板设有抵接架,盒体内部对应转轴设有导向槽,转轴的外端延伸设置在盒体外部,并且端部设有把手。本实用新型能避免测试人员与样品的直接接触,方便样品的使用和贮存。

基本信息
专利标题 :
一种用于荧光分析仪器的样品盒装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020608356.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-21
授权号 :
CN211978728U
授权日 :
2020-11-20
发明人 :
谢凯信贾姝姝肖秀仙
申请人 :
太原师范学院
申请人地址 :
山西省晋中市榆次区高校新区大学街319号
代理机构 :
太原申立德知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
程园园
优先权 :
CN202020608356.4
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  G01N23/2204  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-11-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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