一种用于X射线荧光光谱仪的样品载物台
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于X射线荧光光谱仪的样品载物台，通过将滑台A设计成呈开口朝上的“凵”字形结构，将滑台B设计成呈开口朝下的“凵”字形结构，并且在滑台A和滑台B之间设有安装空间，使得驱动器B和驱动器C位于安装空间内，采用这种设计能很大的降低样品载物台的整体更加紧凑，能减小样品载物台的体积，能特别适用X射线荧光光谱仪等精密仪器。
基本信息
专利标题 ：
一种用于X射线荧光光谱仪的样品载物台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020483484.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-03
授权号 ：
CN212134534U
授权日 ：
2020-12-11
发明人 ：
范真
申请人 ：
深圳市禾苗分析仪器有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区福永街道福宁高新产业园公寓楼308
代理机构 ：
深圳市辉泓专利代理有限公司
代理人 ：
孟强
优先权 ：
CN202020483484.0
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-12-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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