一种能检测多种规格样品的X射线荧光光谱仪
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摘要

本实用新型公开了一种能检测多种规格样品的X射线荧光光谱仪,包括底座、承载臂以及X射线荧光光谱分析模块,所述的底座包含左底板、右底板和后底板,所述的左底板连接在后底板的左端,所述的右底板连接在后底板的右端,所述的左底板、右底板和后底板之间设有避让缺口,所述的承载臂包含竖向承载部和横向承载部,所述的底座、竖向承载部和横向承载部呈“[”形状布置,所述的竖向承载部连接在后底板上,所述横向承载部的前端内设有用于安装X射线荧光光谱分析模块的安装空间,所述的X射线荧光光谱分析模块设置安装空间内,所述的X射线荧光光谱分析模块位于避让缺口的正上方;能提高X射线荧光光谱仪的检测范围。

基本信息
专利标题 :
一种能检测多种规格样品的X射线荧光光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020483681.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-03
授权号 :
CN211955278U
授权日 :
2020-11-17
发明人 :
范真
申请人 :
深圳市禾苗分析仪器有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区福永街道福宁高新产业园公寓楼308
代理机构 :
深圳市辉泓专利代理有限公司
代理人 :
孟强
优先权 :
CN202020483681.2
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-11-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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