一种样品平面精确定位装置及X射线荧光光谱仪
授权
摘要
本实用新型公开一种样品平面精确定位装置及X射线荧光光谱仪,装置包括测样面板、样品中板、样品上板、样品盘、横移机构和纵移机构,样品中板通过第一滑动装置安装在测样面板上,纵移机构设置在测样面板上,纵移机构与样品中板固定连接,纵移机构驱动样品中板相对测样面板前后方向移动,样品上板通过第二滑动装置安装在样品中板上,横移机构设置在测样品中板上,横移机构与样品上板固定连接,横移机构驱动样品上板相对样品中板左右方向移动,样品盘安装在样品上板上,其通过采用横移机构和纵移机构达到分别移动样品中板和样品上板,以此实现对样品盘内的样品进行精确移动定位,使样品在水平面的两个正交方向移动。
基本信息
专利标题 :
一种样品平面精确定位装置及X射线荧光光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122806367.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-16
授权号 :
CN216747501U
授权日 :
2022-06-14
发明人 :
范真
申请人 :
深圳市禾苗分析仪器有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区福永街道福宁高新产业园公寓楼308
代理机构 :
深圳市辉泓专利代理有限公司
代理人 :
何子扬
优先权 :
CN202122806367.0
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223 G01N23/2204
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-06-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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