用于X射线荧光光谱仪的定位装置
授权
摘要

本实用新型公开了用于X射线荧光光谱仪的定位装置,包括光谱仪,所述光谱仪通过连接杆转动连接有支撑箱,所述支撑箱内设有与连接杆固定连接的调节机构,所述支撑箱的底面设有与调节机构固定连接的用于光谱仪的镜面的第一除尘机构,所述支撑箱的下端固定连接有平台,所述平台的上端设有用于固定支撑箱的夹持机构,所述支撑箱的一侧固定连接有两个横板,两个所述横板之间设有用于光谱仪的镜面的第二除尘机构。本实用新型通过夹持机构、调节机构、第一除尘机构、第二除尘机构之间的配合使用实现了多角度调试光谱仪,还可同步清灰除尘光谱仪,直至调整到与接收装置相匹配的最优位置,还可多次清灰除尘光谱仪。

基本信息
专利标题 :
用于X射线荧光光谱仪的定位装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921472887.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-05
授权号 :
CN210863601U
授权日 :
2020-06-26
发明人 :
王亮苏耿贤何永强刘焱吕灼菲
申请人 :
苏州博飞克分析技术服务有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市苏州工业园区东长路88号F1幢1F101室
代理机构 :
苏州国卓知识产权代理有限公司
代理人 :
明志会
优先权 :
CN201921472887.9
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  B08B11/00  B08B5/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-06-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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