一种X射线荧光光谱仪样品托盘
授权
摘要
本实用新型公开了一种X射线荧光光谱仪样品托盘，包括底板，底板上端面设有滑槽，滑槽正面中间位置转动连接有调节杆一，调节杆一位于滑槽内的一端上设有齿轮一，滑槽内调节杆一左右两侧均设有螺纹杆一，螺纹杆一上螺纹连接有调节块，螺纹杆一上设有齿轮二，调节块上端面设有支撑杆，固定杆两端滑动连接有活动杆，固定杆与支撑杆连接，固定杆一侧转动连接有调节杆二，调节杆二位于固定杆内的一端上设有齿轮三，固定杆内调节杆二两侧转动连接有螺纹杆二，螺纹杆二上设有齿轮四，螺纹杆二与活动杆螺纹连接，活动杆上端面设有夹紧板，固定杆上端面设有开槽。本实用新型的优点在于：固定装置位置长度可调、固定效果好。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线荧光光谱仪样品托盘
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020087890.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-15
授权号 ：
CN211426335U
授权日 ：
2020-09-04
发明人 ：
华永成王洪东连冲
申请人 ：
灵希光学检测科技（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区南汇新城镇环湖西二路888号C楼
代理机构 ：
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 ：
李青
优先权 ：
CN202020087890.5
主分类号 ：
G01N23/2204
IPC分类号 ：
G01N23/2204 G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2204
样品支架；样品的输送方法
法律状态
2020-09-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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