一种脆弱样品专用的X射线荧光光谱仪进样条
授权
摘要
本实用新型涉及一种脆弱样品专用的X射线荧光光谱仪进样条，其特征是底盘上布有样品环形坑、提手和卡扣，样品环形坑呈底小逐渐增大、阶梯形的环形坑，其高度居底盘自坑底中心向四周阶梯状递增，环形坑与底盘间加装隔热垫圈，环形坑之间有间距，底盘左右两侧置有提手和卡扣。本实用新型为脆弱样品提供X射线荧光光谱仪测量的面板，具有有序、防热、隔离震动，提高样品测量精度的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种脆弱样品专用的X射线荧光光谱仪进样条
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020240469.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-03
授权号 ：
CN212059991U
授权日 ：
2020-12-01
发明人 ：
张彩霞张耀南王肖波赵雪茹
申请人 ：
中国科学院西北生态环境资源研究院
申请人地址 ：
甘肃省兰州市城关区东岗西路318号
代理机构 ：
兰州中科华西专利代理有限公司
代理人 ：
马正良
优先权 ：
CN202020240469.3
主分类号 ：
G01N23/2204
IPC分类号 ：
G01N23/2204 G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2204
样品支架；样品的输送方法
法律状态
2020-12-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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