一种X荧光光谱仪样品盒底座
授权
摘要

本实用新型公开了一种X荧光光谱仪样品盒底座,包括固定底座,所述固定底座的上方位置设置有下部支撑杆,所述下部支撑杆的内部设置有上部伸缩杆,所述下部支撑杆和上部伸缩杆之间设置有固定螺栓,所述上部伸缩杆的上方位置设置有上部样品盒,所述上部样品盒的上面设置有盒盖,所述上部样品盒的盒底设置有滑槽,所述滑槽的内设置有滑块。本实用新型所述的一种X荧光光谱仪样品盒底座,通过设置的下部支撑杆和上部伸缩杆等结构,能够自由的调节上部样品盒的高度,同时在上部样品盒的底部设置的三组固定螺纹证等结构,能够保证当样品的形状较小和不规则的时候,可以调节高度固定住样品不移位,准确的完成X射线照射。

基本信息
专利标题 :
一种X荧光光谱仪样品盒底座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020566531.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-16
授权号 :
CN212083279U
授权日 :
2020-12-04
发明人 :
李福生王清亚
申请人 :
南昌通莱电子科技有限公司;东华理工大学
申请人地址 :
江西省南昌市高新区中兴产业园
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202020566531.8
主分类号 :
G01N23/2204
IPC分类号 :
G01N23/2204  G01N23/223  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2204
样品支架;样品的输送方法
法律状态
2020-12-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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