荧光光谱仪的样品盘定位装置
授权
摘要
本实用新型公开了荧光光谱仪的样品盘定位装置，包括安探测器和样品盘本体；所述探测器通过支架固定于工作台面上；所述工作台面上安装有定位台，所述样品盘本体活动安装在所述定位台上并可沿所述定位台的长度方向滑动；所述定位台上位于所述样品盘本体的两侧活动安装有用于夹持所述样品盘本体的定位块，两个所述定位块通过丝杆副传动可同步相对或相背移动。本实用新型的荧光光谱仪的样品盘定位装置，在定位台上位于样品盘本体两侧通过丝杆副传动连接有定位块，两个定位块可在丝杆副结构作用下同步向样品盘本体移动从而完成对其定位夹持，整个装置操作简单，使用方便，便于在市场上广泛推广应用。
基本信息
专利标题 ：
荧光光谱仪的样品盘定位装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020356674.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-19
授权号 ：
CN212031275U
授权日 ：
2020-11-27
发明人 ：
金民
申请人 ：
南京彤乐仪器设备有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市栖霞区栖霞街道广月路11-38号
代理机构 ：
北京科家知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈娟
优先权 ：
CN202020356674.6
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-11-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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