x射线荧光分析智能机器人熔片系统
实质审查的生效
摘要
本发明公开一种x射线荧光分析智能机器人熔片系统，包括机柜、助剂称重分样部件、熔样炉、混合振动单元、机械臂、夹爪、取样片吸盘部件、多个样片架和多个样品架，机柜置于地面之上，机柜用于安装助剂称重分样部件、混合振动单元、机械臂、样品架、样片架和取样片吸盘部件，熔样炉紧贴机柜设置且布置在地面之上，助剂称重分样部件、混合振动单元、机械臂、样品架、样片架和取样片吸盘部件均布置在机柜的工作台面上；夹爪设置在机械臂末端。优点：本发明，实现从助剂加样称量到熔融片制备完毕全过程的无人化智能作业。
基本信息
专利标题 ：
x射线荧光分析智能机器人熔片系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114518377A
申请号 ：
CN202210413829.9
公开（公告）日 ：
2022-05-20
申请日 ：
2022-04-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘露刘正权于吉苏艾福强王雷
申请人 ：
南京中科特检机器人有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市溧水经济开发区溧水产业新城科创中心
代理机构 ：
南京擎天知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
涂春春
优先权 ：
CN202210413829.9
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223 G01G13/295 B25J9/00 B25J15/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-06-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/223
申请日 : 20220420
申请日 : 20220420
2022-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
