一种X射线荧光光谱分析玻璃熔片移取器
授权
摘要
一种X射线荧光光谱分析玻璃熔片移取器，涉及玻器领域。该X射线荧光光谱分析玻璃熔片移取器包括硅胶制成的套筒、连接于套筒底部的吸盘及与套筒顶部铰接的硅胶封盖，硅胶封盖转动时封闭或打开套筒顶部。本实施例提供的X射线荧光光谱分析玻璃熔片移取器能够快速稳定的移动玻璃熔片，并避免对玻璃熔片的工作面造成污染。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线荧光光谱分析玻璃熔片移取器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122573966.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-25
授权号 ：
CN216696124U
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
许超陈宁娜
申请人 ：
中冶武汉冶金建筑研究院有限公司;中国一冶集团有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市38街坊八大家花园44号楼5-9层
代理机构 ：
湖北武汉永嘉专利代理有限公司
代理人 ：
陶洪
优先权 ：
CN202122573966.2
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-06-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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