一种适用于X射线荧光分析玻璃熔片法的样品前处理方法
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摘要

本发明属于X射线荧光光谱分析技术领域,公开了一种适用于X射线荧光分析玻璃熔片法的样品前处理方法,在高温状态下将未知矿石样品中的非氧化态金属变成氧化态金属、有机质600℃的高温发生反应、硫化物1000℃的高温发生反应。本发明在现有的国标GB/T 14506.28‑2010方法基础上,样品增加了前处理阶段,可以扩大使用在矿石样品的分析,或者未知的试样样品中存在非氧化态金属;有机碳和一些硫化物的情况下,不但保护了X射线荧光分析玻璃熔片法的铂金坩埚,还扩大了国标的使用范围,使得一些手工样品可以用仪器测量,分析速度快,试样加工相对简单、分析精度高,安全环保。

基本信息
专利标题 :
一种适用于X射线荧光分析玻璃熔片法的样品前处理方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110274924A
申请号 :
CN201910453693.2
公开(公告)日 :
2019-09-24
申请日 :
2019-05-28
授权号 :
CN110274924B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
王烨黎卫亮曹珊
申请人 :
中国地质调查局西安地质调查中心
申请人地址 :
陕西省西安市碑林区友谊东路166号
代理机构 :
西安长和专利代理有限公司
代理人 :
黄伟洪
优先权 :
CN201910453693.2
主分类号 :
G01N23/2202
IPC分类号 :
G01N23/2202  G01N23/223  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2202
样品制备
法律状态
2022-04-08 :
授权
2019-10-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2202
申请日 : 20190528
2019-09-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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