一种X射线荧光光谱探测系统
授权
摘要
本实用新型涉及探测技术领域,尤其涉及一种X射线荧光光谱探测系统,其包括支撑盘、X光管、晶体装置、准直器及探测器,X光管与支撑盘固接,X光管顶部设置有样品分析区,支撑盘上固装支撑柱及弧形轨道,晶体装置包括晶体安装轴、晶体支撑辊及多个晶体,晶体安装轴固装在支撑柱上,晶体支撑辊转动的安装于晶体安装轴上,多个晶体固装在晶体支撑辊外壁上,准直器固装于支撑柱上,探测器滑动的安装在弧形轨道上,晶体及探测器之间连接有线束,支撑盘上固装有线束走线轴,线束走线轴侧壁上开设有弧形凹槽,线束设于弧形凹槽内并通过线卡与线束走线轴固定。本实用新型提供的装置结构简单,不会造成线束混乱且防止线束磨损。
基本信息
专利标题 :
一种X射线荧光光谱探测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021526859.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-29
授权号 :
CN212964700U
授权日 :
2021-04-13
发明人 :
谢吉祥曾锦刁承民陈勇展卫星李小梅
申请人 :
盐城市联鑫钢铁有限公司
申请人地址 :
江苏省盐城市大丰区大丰港经济区临港工业区22400
代理机构 :
天津展誉专利代理有限公司
代理人 :
刘永会
优先权 :
CN202021526859.3
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2021-04-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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