X射线检测器
实质审查的生效
摘要
本公开的各实施例涉及一种X射线检测器，包括具有NPN型双极晶体管的第一电路以及第二电路，第二电路被配置成将NPN型双极晶体管的端子处的电压与参考值进行比较，所述参考值基本等于当第一电路已经暴露于阈值量的X射线时会出现的端子电压的值。
基本信息
专利标题 ：
X射线检测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114518588A
申请号 ：
CN202111373631.4
公开（公告）日 ：
2022-05-20
申请日 ：
2021-11-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
G·加西奥特S·特洛徐特O·勒内尔V·马勒布
申请人 ：
意法半导体有限公司;意法半导体（克洛尔2）公司
申请人地址 ：
法国蒙鲁
代理机构 ：
北京市金杜律师事务所
代理人 ：
黄海鸣
优先权 ：
CN202111373631.4
主分类号 ：
G01T1/24
IPC分类号 ：
G01T1/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/24
用半导体探测器
法律状态
2022-06-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 1/24
申请日 : 20211119
申请日 : 20211119
2022-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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