一种X射线数字断层合成系统和方法
公开
摘要
为了对感兴趣区域进行正确成像,断层合成系统的初始对准要求操作员具备一定技能,特别是在感兴趣区域是仅具有有限表面特征的内部结构的情况下,更是如此。重建整个3D断层合成图像可能需要几十秒,有时甚至几分钟,因此等操作员意识到需要进行后续扫描的情况后,你会发现整个3D断层合成图像可能花费的时间会更长。此时,患者可能已经移动,第二次扫描也可能错过感兴趣区域,需要第三次扫描,依此类推。多次照射不仅费时,而且会增加患者接受的辐射剂量。本发明提供了一种数字X射线断层合成系统,包括X射线发射器的静态阵列和X射线探测器,并且涉及选择X射线发射器的子集,使得X射线探测器的任何部分都不暴露到来自多于九个子集的X射线,并由在X射线探测器上产生的相应图像52、53中的每一个的非重叠部分生成合成图像50。通过这种方式,可以使用最小剂量的辐射产生对象的二维图像。
基本信息
专利标题 :
一种X射线数字断层合成系统和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114364321A
申请号 :
CN202080064161.0
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2020-09-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
史蒂夫·威尔斯克里斯汀·施密德豪森
申请人 :
昂达博思有限公司
申请人地址 :
英国牛津郡
代理机构 :
上海申新律师事务所
代理人 :
董科
优先权 :
CN202080064161.0
主分类号 :
A61B6/00
IPC分类号 :
A61B6/00 A61B6/02 A61B6/03
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学;卫生学
A61B
诊断;外科;鉴定
A61B6/00
用于放射诊断的仪器,如与放射治疗设备相结合的
法律状态
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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