X射线断层扫描系统和方法
公开
摘要
数字断层合成(DT)是一种有限角度断层扫描，可提供3D成像的优势。与计算机断层扫描(CT)非常相似，DT允许通过一次查看一个切片来更好地检测3D结构。高平面内分辨率、三维度和低辐射剂量使DT在许多医学成像应用中成为CT的有吸引力替代品。与CT相比，DT投影数据集是不完整的，这违反了断层扫描充分性条件，并导致重建图像中的角度伪影有限。尽管DT是一种体积成像技术并提供了有关对象内部结构的信息，但无法重建有关对象的整个3D信息。因此，其中一个重要问题是提高断层合成图像质量。通常希望减小间隔距离(SID或SOD)。如果尝试使用现有的已知方法来做到这一点，则会引入大的失真，从而导致路径长度(以及衰减)的偏移，这可能会带来问题。本发明提供了一种产生断层照片的方法，其中、沿着X射线探测器面板20上的线来进行重建，其中该线由探测器面板20上最靠近X射线发射器10的点位置上的点来定义，至X射线探测器面板20的周边上的相应像素的位置。通过这种方式，实现伪影的减少，特别实现在较高的锥束角和较低的间隔距离下的伪影的减少。
基本信息
专利标题 ：
X射线断层扫描系统和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114340501A
申请号 ：
CN202080057183.4
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2020-08-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
瓦迪姆·索洛维耶夫
申请人 ：
昂达博思有限公司
申请人地址 ：
英国牛津郡
代理机构 ：
上海申新律师事务所
代理人 ：
董科
优先权 ：
CN202080057183.4
主分类号 ：
A61B6/02
IPC分类号 ：
A61B6/02 A61B6/00 G06T11/00
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61B
诊断；外科；鉴定
A61B6/00
用于放射诊断的仪器，如与放射治疗设备相结合的
A61B6/02
依次在不同平面中诊断的仪器；立体放射诊断的
法律状态
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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