双视角X射线安检系统的神经网络重建断层成像方法
授权
摘要

本发明提供一种双视角X射线安检系统的神经网络重建断层成像方法,其特点是安检系统中采用了互相垂直安放的X射线装置用以发射和检测X射线信号,采集后的信号传到计算机系统中;在计算机内部,对重建图像进行网格划分,改写重建网格的全变差开方运算为矩阵运算,使得重建网格的系数具有严格正定的矩阵表达形式。通过计算每个重建网格对每条X射线传播路径上的投影权重值,建立了从射源到检测器间的投影线性方程组,从而将重建问题转化为满足凸二次规划的优化,最终利用神经网络算法进行优化求解。该发明的方法避免了透视影响互相重叠的问题,较清晰地重建物体三维影像等优点。

基本信息
专利标题 :
双视角X射线安检系统的神经网络重建断层成像方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN109374658A
申请号 :
CN201811579574.3
公开(公告)日 :
2019-02-22
申请日 :
2018-12-24
授权号 :
CN109374658B
授权日 :
2022-05-03
发明人 :
王瑜李迅波陈亮
申请人 :
电子科技大学
申请人地址 :
四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
代理机构 :
成都中亚专利代理有限公司
代理人 :
王岗
优先权 :
CN201811579574.3
主分类号 :
G01N23/046
IPC分类号 :
G01N23/046  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术,如计算机X光断层技术
法律状态
2022-05-03 :
授权
2019-03-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/046
申请日 : 20181224
2019-02-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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