新型X射线通道式安检系统结构
专利权的终止
摘要

本实用新型是一种新型的X射线通道式安检系统的结构,有3台X射线机及其前准直器,4个线性探测器阵列及其后准直器阵列,传送带机、机架和辐射屏蔽等。安装在通道一侧和下侧的线性探测器阵列和安装在通道上侧的1台X射线机构成数字化射线照相几何学的DR部分,安装在通道左、右两侧的线性探测器阵列、安装在通道下侧的1台X射线机和通道上侧的另一台X射线机构成康普顿散射几何学CBS部分,两者之间有一定距离。本实用新型探测效率高,功能先进完善,图像质量好,辐射安全性好,性能/价格比高,既可检测金属违禁品,又可以检测炸药/毒品/易燃易爆品,完全适用于现场安全检查。

基本信息
专利标题 :
新型X射线通道式安检系统结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820116180.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-05-12
授权号 :
CN201199235Y
授权日 :
2009-02-25
发明人 :
丁厚本丁莉丁青汪子明
申请人 :
丁青;丁厚本
申请人地址 :
230088安徽省合肥市长江西路669号高新区创业服务中心7号楼306室
代理机构 :
安徽合肥华信知识产权代理有限公司
代理人 :
余成俊
优先权 :
CN200820116180.X
主分类号 :
G01N23/203
IPC分类号 :
G01N23/203  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/203
测量背散射
法律状态
2012-07-11 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101288711964
IPC(主分类) : G01N 23/203
专利号 : ZL200820116180X
申请日 : 20080512
授权公告日 : 20090225
终止日期 : 20110512
2009-02-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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