一种安检仪X射线校准机构
授权
摘要
一种安检仪X射线校准机构,安装在安检仪的X射线发射口和板卡之间,包括一次准直器和二次准直器;所述的一次准直器位于X射线发射口处,二次准直器与一次准直器相连;一次准直器是截面整体为梯形的中空结构,一次准直器内有供X射线在梯形的两底边之间通过的通道;二次准直器是截面整体为梯形的中空结构,一次准直器内有供X射线在梯形的两底边之间通过的通道,二次准直器的梯形短底边处与一次准直器的梯形长底边处相连通。本实用新型可将X射线过滤到1mm‑1.5mm宽的发射区域且结构简单、稳定。
基本信息
专利标题 :
一种安检仪X射线校准机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921957768.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-13
授权号 :
CN211061709U
授权日 :
2020-07-21
发明人 :
马德荣李荣才褚芸天俞文忠
申请人 :
无锡市电子仪表工业有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市无锡国家高新技术产业开发区B22-A地块B1幢
代理机构 :
江苏英特东华律师事务所
代理人 :
孔原
优先权 :
CN201921957768.2
主分类号 :
G01V5/00
IPC分类号 :
G01V5/00 G01T7/00 G01T1/16 G21K1/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V5/00
应用核辐射进行勘探或探测,例如,利用天然的或诱导的放射性
法律状态
2020-07-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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