一种X射线激光自动校准系统
公开
摘要

本申请涉及一种X射线激光自动校准系统,涉及安检设备校验技术领域,包括底座和光源,光源设置于底座上,底座上设置有校准臂,校准臂上转动设置有安装座,校准臂上设置有第一驱动源;安装座上设置有安装梁,安装梁上滑动设置有两个滑动座,安装梁上设置有弹性件;滑动座上设置有安装板,安装板上转动设置有用于夹持接收板的夹块,安装板上设置有用于驱动夹块转动的第二驱动源。通过第一驱动源驱动校准臂转动,实现调节接收板的水平面内角度的目的;通过第二驱动源驱动夹块转动,能够调节接收板的仰角,进而实现调节接收板与激光之间的角度,以使接收板左右对称的接收点的亮度相等。无需工人手动调节,有效的提高校准效率。

基本信息
专利标题 :
一种X射线激光自动校准系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114296149A
申请号 :
CN202111516003.7
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-06
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李国军
申请人 :
深圳市神飞电子科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市坪山区坪山街道六和社区埔桥工业区B栋301
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202111516003.7
主分类号 :
G01V13/00
IPC分类号 :
G01V13/00  G01V5/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V13/00
包括在G01V1/00至G01V11/00各组中的仪器或设备的制造、校准、清洁或修理
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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