X光安检机
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摘要

本实用新型提供了一种X光安检机,X光安检机包括:安检机主体、第一支架、第一辊轴、第二辊轴、第一传动带、限位辊、第二支架、第三辊轴、第四辊轴、第二传动带和铅帘;安检件主体为两端具有开口的中空腔体;第一支架的一端伸出于安检机主体外;限位辊呈圆柱形,限位辊位于第一传动带的两侧,且限位辊与第一支架转动连接;第二支架的一端与第一传送台的另一端相贴合。采用此种结构,通过使限位辊位于第一传动带的两侧,并使限位辊与第一支架转动连接,当被检测物品随第一传动带移动时,以实现对被检测物品限位,以避免被检测物品与安检机主体发生磕碰,损伤设备,延长产品使用年限,提升用户使用体验。

基本信息
专利标题 :
X光安检机
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921448279.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-02
授权号 :
CN211148942U
授权日 :
2020-07-31
发明人 :
周健
申请人 :
上海要博实业有限公司
申请人地址 :
上海市普陀区真光路1473弄3号4层4083室
代理机构 :
北京天奇智新知识产权代理有限公司
代理人 :
龙涛
优先权 :
CN201921448279.4
主分类号 :
G01V5/00
IPC分类号 :
G01V5/00  G01N23/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V5/00
应用核辐射进行勘探或探测,例如,利用天然的或诱导的放射性
法律状态
2020-07-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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