一种X光安检设备光路装置
授权
摘要
本实用新型属于安检设备技术领域，涉及一种X光安检设备光路装置，包括检测室、X射线发生组件、X射线探测组件，所述X射线发生组件包括设置于所述检测室底端的X射线发生器，所述X射线探测组件包括设置于所述检测室上的探测支架和设置于所述探测支架上的至少一个探测板，所述探测板与所述检测室的侧壁和顶部抵接配合，所述探测板至所述X射线发生器的连线垂直于该所述探测板的探测面。本实用新型采用缩短探测板和X射线发生器之间的距离，同时探测板至所述X射线发生器的连线垂直于该所述探测板的探测面，确保探测板获取足够的X射线能量，进而提高安检机成像效果及出图质量。
基本信息
专利标题 ：
一种X光安检设备光路装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022071869.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-18
授权号 ：
CN213456732U
授权日 ：
2021-06-15
发明人 ：
吴建福赵玉海
申请人 ：
深圳市方吉无限科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区石岩街道水田社区石龙仔路32号2栋2层
代理机构 ：
深圳市正德知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
周善勇
优先权 ：
CN202022071869.9
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04 G01N23/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2021-06-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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