厚度测定装置
实质审查的生效
摘要

实施方式的厚度测定装置具备:放射线源,向测定对象物放射放射线;检测部,检测放射线;测定部,对测定对象物的厚度进行测定;自诊断部,执行多种自中诊断的至少任一种;存储部,存储包含测定部的测定结果以及自诊断部的自诊断结果的测定关系信息,并且存储将所取得的数据的种类以及期间与多种自诊断分别建立对应的对应信息;取得部,在自诊断部执行了自诊断的情况下,参照对应信息,从存储部所存储的测定关系信息,按照与该自诊断建立对应的期间取得与该自诊断建立对应的种类的数据;以及汇集部,生成将由取得部取得的数据进行汇集而成的文件数据。

基本信息
专利标题 :
厚度测定装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114521229A
申请号 :
CN202180005245.1
公开(公告)日 :
2022-05-20
申请日 :
2021-04-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
C·德阿波洛尼娅
申请人 :
株式会社东芝;东芝基础设施系统株式会社
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
永新专利商标代理有限公司
代理人 :
戚宏梅
优先权 :
CN202180005245.1
主分类号 :
G01B15/02
IPC分类号 :
G01B15/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
2022-06-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 15/02
申请日 : 20210422
2022-05-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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